Microsemi（并購了Symmetricom公司）公司開發(fā)了直接數(shù)字相位噪聲測量技術(shù)，這項技術(shù)已經(jīng)擴展到一個測試探頭。精確的相噪和阿倫方差測量成本顯著降低。
Microsemi（并購了Symmetricom公司）的3120A是一款高性能的測試探頭，可以測量射頻源端口和雙端口設備的振幅、相位和頻率的穩(wěn)定（頻率：0.5MHz—30MHz）。
3120A的測試內(nèi)容如下：
- 實時“帶狀圖”相和具有亞皮秒（PS）精度和頻率的差異
- 絕對頻率計數(shù)為：13+位每秒，最大17位（升級選項）)
- 阿倫方差(ADEV)通常小于1E-13（t=1s）
- 改進的阿倫方差（MDEV）方面，哈德曼方差(HDEV)，時間偏差（TDEV）。（升級選項）
- RMS集成的相噪和相噪偏移量為：
- 1Hz—100kHz，水平低于-170dBc/Hz(升級選項)
- AM噪聲偏移量為：1Hz—100kHz，<-170dBc/Hz(升級選項)
- RMS集成的抖動時間小于100fs，殘余抖動為：1Hz—100kHz（升級選項）
3120A需要一臺PC主機和用戶提供的外部參考振蕩器。幾乎所有方面的測量性能的準確度、重復性、本底噪聲和雜散響應都依賴于能夠提供最好的參考信號，如：采用一個獨立的低噪聲OCXO以進行相位噪聲和調(diào)幅噪聲測量等。
